\begin{document}${}_{}{}^{60}\rm{C}\rm{o}~\rm{\gamma }$\end{document}射线辐射器件得到电离损伤效应结果, 发现器件的电学性能退化规律与60 MeV能量质子辐照后的退化规律一致. 通过蒙特卡罗模拟得到质子入射在Cascode型器件内诱导产生的电离能损和非电离能损, 模拟结果表明电离能损是导致器件性能退化的主要原因."> - 必威体育下载

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    白如雪, 郭红霞, 张鸿, 王迪, 张凤祁, 潘霄宇, 马武英, 胡嘉文, 刘益维, 杨业, 吕伟, 王忠明

    High-energy proton radiation effect of Gallium nitride power device with enhanced Cascode structure

    Bai Ru-Xue, Guo Hong-Xia, Zhang Hong, Wang Di, Zhang Feng-Qi, Pan Xiao-Yu, Ma Wu-Ying, Hu Jia-Wen, Liu Yi-Wei, Yang Ye, Lyu Wei, Wang Zhong-Ming
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    出版历程
    • 收稿日期:2022-08-12
    • 修回日期:2022-08-31
    • 上网日期:2022-12-24
    • 刊出日期:2023-01-05

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