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    谭开洲, 胡刚毅, 杨谟华, 徐世六, 张正璠, 刘玉奎, 何开全, 钟 怡

    Study of conductive property for a N-VDMOS interface trap under X-ray radiation

    Sun Guang-Ai, Hu Gang-Yi, Yang Mo-Hua, Xu Shi-Liu, Zhang Zheng-Fan, Liu Yu-Kui, He Kai-Quan, Zhong Yi
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    出版历程
    • 收稿日期:2007-06-06
    • 修回日期:2007-07-24
    • 刊出日期:2008-03-20

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