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    张晓丹, 赵 颖, 朱 锋, 魏长春, 麦耀华, 高艳涛, 孙 建, 耿新华, 熊绍珍

    Secondary ion mass spectroscopic depth profile analysis of oxygen contamination in hydrogenated microcrystalline silicon

    Zhang Xiao-Dan, Zhao Ying, Zhu Feng, Wei Chang-Chun, Mai Yao-Hua, Gao Yan-Tao, Sun Jian, Geng Xin-Hua, Xiong Shao-Zhen
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    出版历程
    • 收稿日期:2004-07-15
    • 修回日期:2004-11-03
    • 刊出日期:2005-02-05

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