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摘要

用分析电子显微镜研究了顶部籽晶法生长的BaTiO3晶体内的缺陷。成功地制备出薄区厚约100nm内含包裹体的电子显微镜样品。用透射电子显微镜(TEM),配合电子能量损失谱(EELS)确定了BaTiO3单晶内包裹体的相分为:非晶的Ba-Ti-O和高Ti-Ba氧化物——Ba6Ti17O40在BaTiO3单晶试样中,还观察到其它几种类型的微缺陷。
Abstract
Defects in photorefractive BaTiO3 crystal, obtained by the top seed solution growth method, have been studied by analytical electron microscopy. Thin foils containing inclusions for transmission electron micrsocopy (TEM) were prepared by ion milling the mechanically polished thin sections. Combining diffraction and electron energy loss spectroscopy in a TEM, the inclusions were identified as amorphous Ba-Ti-O and Ba6Ti17O40. Other microdefects which are only visible in the TEM have been identified as crystalline precipitates.
作者及机构信息
杨翠英¹,

张道范¹,

吴星¹,

周玉清²,

冯国光²
Authors and contacts
YANG CUI-YING¹,

ZHANG DAO-FAN¹,

WU XING¹,

ZHOU YU-QING²,

FENG GUO-GUANG²
参考文献

施引文献

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