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    刘远峰, 李斌成, 赵斌兴, 刘红

    Detection of subsurface defects in silicon carbide bulk materials with photothermal radiometry

    Liu Yuan-Feng, Li Bin-Cheng, Zhao Bin-Xing, Liu Hong
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    出版历程
    • 收稿日期:2022-07-01
    • 修回日期:2022-10-26
    • 上网日期:2022-11-11
    • 刊出日期:2023-01-20

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