搜索

x

留言板

姓名
邮箱
手机号码
标题
留言内容
验证码

downloadPDF
引用本文:
Citation:

    席善斌, 陆妩, 王志宽, 任迪远, 周东, 文林, 孙静

    Use the subthreshold-current technique to separate radiation induced defects in gate controlled lateral pnp bipolar transistors

    Xi Shan-Bin, Lu Wu, Wang Zhi-Kuan, Ren Di-Yuan, Zhou Dong, Wen Lin, Sun Jing
    PDF
    导出引用
    计量
    • 文章访问数:6857
    • PDF下载量:676
    • 被引次数:0
    出版历程
    • 收稿日期:2011-05-31
    • 修回日期:2012-04-05
    • 刊出日期:2012-04-05

      返回文章
      返回
        Baidu
        map